查看完整版本: [-- 信息存储技术或迎来跨越式革命[1P] --]

武当休闲山庄 -> 数码讨论 -> 信息存储技术或迎来跨越式革命[1P] [打印本页] 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题

huozm32831 2026-01-24 15:38


  1月21日在中国科学院物理研究所实验室拍摄的用于铁电测试的铁电电容器样品。

  本报北京1月23日电(记者崔兴毅)想象一下,将一万部高清电影或二十万段短视频,全部塞进一张邮票大小的设备里——这不是科幻,而是我国科学家的最新成果可能带来的真实未来图景。23日,中国科学院物理研究所金奎娟院士、葛琛研究员、张庆华副研究员联合团队在《科学》期刊上发表重要研究成果——首次在三维晶体中发现并操控“一维带电畴壁”,为下一代超高密度存储与人工智能芯片奠定了科学基础。这项成果不仅颠覆了传统认知,更意味着信息存储技术有望迎来从“二维平面”到“一维线”甚至“零维点”的跨越式革命。
  在我们熟悉的磁铁中,无数个微小磁针指向同一方向,从而产生磁性。类似的,铁电材料内部存在无数个“电学指南针”,它们自发指向同一极化方向,形成正负电荷分离的结构。更神奇的是,这些“电针”的方向能用外部电场翻转,就像开关一样,因此铁电材料被誉为“信息存储的明星材料”。
  在实际材料中,这些“电针”并不会全部整齐排列,而是分成一个个方向一致的小区域,称为“铁电畴”,畴与畴之间的边界就是“畴壁”。你可以把整块材料想象成一个魔方——如果所有小方块颜色相同,就是单一畴;如果颜色不同,畴壁就是不同色块之间的交界面。
  长期以来,科学界认为,在三维晶体中畴壁自然是二维的“面”。但研究团队通过创新材料设计与原子尺度观测,在萤石结构氧化锆薄膜中,首次发现厚度与宽度均仅为埃米级别(约0.25纳米)的一维畴壁,相当于人类头发直径的数十万分之一。
  这些一维畴壁被限制在极薄的极性晶格层内,像一条条极其纤细的“电荷线”,其稳定存在得益于氧离子和氧空位扮演的“原子胶水”角色。研究团队甚至通过电子辐照产生的局部电场,实现对这类畴壁的人工写入、移动与擦除,为将来实现可控电路功能迈出关键一步。
  这项突破最令人兴奋的,还是其应用潜力——比如存储变革。当前商用存储器(如硬盘、U盘)的信息记录单元是“面”,尺寸为数十纳米;传统铁电畴壁存储单元是“线”;而本次发现的一维畴壁,在投影视角下相当于一个“点”。从面到线再到点,这意味着存储密度可实现指数级提升,预计比现有技术提高数百倍,理论存储密度可达每平方厘米20TB,真正实现“邮票存万影”。
  据了解,该研究不仅填补了铁电物理中畴壁维度的空白,更揭示了萤石结构铁电材料体系中极化翻转与离子迁移之间的内在耦合机制。这意味着,未来我们不仅能造出更小的存储器,更有可能在一个物理器件中同时实现信息存储与类脑计算,推动存算一体芯片的发展。正如团队专家所说:“这项研究为开发具有极限密度的人工智能器件载体提供了科学基础。”

jjybzxw 2026-01-24 17:39
我国科学家突破信息存储极限:一维带电畴壁或开启“邮票存万影”时代  

2026年1月23日,中国科学院物理研究所金奎娟院士、葛琛研究员、张庆华副研究员联合团队在《科学》期刊发表重磅成果——首次在三维晶体中发现并操控“一维带电畴壁”,为下一代超高密度存储与人工智能芯片奠定科学基础。这一发现颠覆了传统认知,预示信息存储技术将从“二维平面”向“一维线”甚至“零维点”跨越,理论存储密度可达每平方厘米20TB,相当于将一万部高清电影或二十万段短视频塞进一张邮票大小的设备中。
一、核心突破:从“二维畴壁”到“一维电荷线”  
1. 传统认知的颠覆  
铁电材料与畴壁:铁电材料内部存在无数“电学指南针”(电偶极子),自发指向同一极化方向,形成正负电荷分离的结构。这些“电针”的方向可通过外部电场翻转,使其成为信息存储的理想材料。  
畴壁的维度:畴壁是铁电畴(方向一致的小区域)之间的边界。此前科学界普遍认为,在三维晶体中畴壁是二维的“面”,类似于魔方中不同色块之间的交界面。  
2. 一维畴壁的发现  
材料创新:研究团队通过设计萤石结构氧化锆薄膜,利用原子尺度观测技术,首次发现厚度与宽度仅约0.25纳米(埃米级别)的一维畴壁,相当于人类头发直径的数十万分之一。  
稳定机制:这些一维畴壁被限制在极薄的极性晶格层内,其稳定存在得益于氧离子和氧空位形成的“原子胶水”作用,防止了畴壁的坍塌或扩散。  
3. 人工操控的实现  
研究团队通过电子辐照产生的局部电场,成功实现对一维畴壁的写入、移动与擦除,为未来构建可控电路功能(如存储单元的开关)迈出关键一步。
二、技术革命:存储密度指数级提升  
1. 从“面”到“点”的跨越  
当前技术瓶颈:商用存储器(如硬盘、U盘)的信息记录单元是“面”,尺寸为数十纳米;传统铁电畴壁存储单元是“线”。  
一维畴壁的优势:在投影视角下,一维畴壁相当于一个“点”,其存储密度可实现指数级提升。  
理论数据:存储密度预计比现有技术提高数百倍,达每平方厘米20TB。  
直观对比:一张邮票大小的设备可存储一万部高清电影(每部约2GB)或二十万段短视频(每段约10MB)。  
2. 应用场景拓展  
消费电子:手机、电脑等设备的存储容量将大幅提升,同时体积更小、能耗更低。  
数据中心:减少服务器数量,降低能耗与空间占用,推动绿色计算发展。  
人工智能:高密度存储与类脑计算的结合,可能催生新一代存算一体芯片,加速AI训练与推理效率。  
三、科学意义:填补空白,揭示耦合机制  
1. 填补铁电物理的维度空白  
此前,铁电材料中畴壁的维度研究仅限于二维,一维畴壁的发现为畴壁理论提供了新维度,完善了铁电物理的学科体系。  
2. 揭示极化翻转与离子迁移的耦合  
研究揭示了萤石结构铁电材料中,电偶极子翻转(极化)与氧离子/氧空位迁移之间的内在联系。这一机制为设计新型铁电材料提供了理论指导,未来可能通过调控离子迁移进一步优化存储性能。  
3. 推动存算一体芯片发展  
传统芯片中,存储与计算单元分离,导致数据传输瓶颈。一维畴壁的高密度存储特性,结合其可控电路功能,为在同一物理器件中实现信息存储与类脑计算提供了可能,推动存算一体芯片的实用化进程。
四、未来展望:从实验室到产业化的挑战  
1. 技术成熟度  
目前,一维畴壁的发现仍处于实验室阶段,需解决以下问题:  
稳定性:长期使用中畴壁是否会因热扰动或电场疲劳而失效?  
规模化制备:如何低成本、高良率地制造含有一维畴壁的铁电薄膜?  
集成技术:如何将一维畴壁存储单元与现有半导体工艺兼容?  
2. 产业协同  
材料供应商:需开发适用于一维畴壁的铁电材料(如氧化锆薄膜的优化)。  
芯片制造商:需设计新的存储架构,充分利用一维畴壁的高密度特性。  
终端厂商:需探索高密度存储在消费电子、数据中心等场景的应用模式。  
3. 伦理与安全  
数据安全:超高密度存储可能面临更复杂的数据泄露风险,需加强加密技术研究。  
环境影响:新型材料与制造工艺需评估其全生命周期的环境友好性。  
五、结语:一场由“一维”引发的存储革命  

中国科学院物理研究所团队的这一突破,不仅为信息存储技术开辟了新路径,更可能重塑人工智能、云计算等领域的竞争格局。正如团队专家所言:“这项研究为开发具有极限密度的人工智能器件载体提供了科学基础。”未来,随着一维畴壁技术从实验室走向产业化,我们或许将迎来一个“邮票存万影”、芯片即大脑的科技新时代。

姜谷粉丝 2026-01-25 10:16
信息存储技术正迎来革命性突破,其核心变革主要体现在以下三大方向:

🔬 一、存储介质维度跨越
从“面”到“点”的突破
传统存储技术(如硬盘、U盘)以二维“面”为记录单元(尺寸约数十纳米),而最新发现的一维带电畴壁将存储单元缩小至埃米级(约0.25纳米),在投影视角下等效于“点”234。这种极限尺度结构使存储密度实现指数级跃升,理论值可达每平方厘米20TB,较现有技术提升数百倍。一张邮票大小的设备即可存储上万部高清电影15。

三维晶体中的可控操作
科学家首次在萤石结构氧化锆薄膜中实现一维畴壁的人工操控,通过电子辐照产生的电场精准完成写入、移动与擦除操作,为高密度存储电路奠定物理基础24。

⚡ 二、存储效能跃升
能耗与寿命优化
新型存储技术(如DNA存储、全息光存储)具备能耗极低、保存年限超长的优势。DNA存储理论保存年限超千年,能耗仅为传统存储的百万分之一1125;全息光存储则突破传统光盘密度极限,支持超长期安全存储25。

绿色节能趋势
华为等企业推出能效低于0.7Watt/TB的存储方案,密度达1PB/U(即1单位机柜空间存储1PB数据),推动数据中心向低碳化演进12。

🧠 三、存算一体范式重构
类脑计算融合
一维畴壁结构可同时承载信息存储与计算任务,模拟大脑神经元工作机制。这种存算一体架构将显著提升AI芯片效率,解决传统架构中数据搬运导致的“存储墙”瓶颈19。

人工智能芯片新路径
存算一体技术结合传感器海量数据采集能力,为边缘计算、低功耗AI设备提供新范式,推动智能终端从“被动响应”向“无感化自主决策”进化915。

💎 总结:技术变革的深远影响
此次革命本质是物理结构革新引发存储范式颠覆:通过原子级操控实现介质维度压缩,结合存算融合突破冯·诺依曼架构限制。未来将催生超微型存储设备、高能效数据中心,并加速脑启发计算等前沿领域发展,全面重塑数字社会基础设施。


查看完整版本: [-- 信息存储技术或迎来跨越式革命[1P] --] [-- top --]


Powered by www.wdsz.net v8.7.1 Code ©2005-2018www.wdsz.net
Gzip enabled


沪ICP备:05041533号